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高低溫按鍵壽命試驗箱RS-8330GDW

名稱:高低溫按鍵壽命試驗箱RS-8330GDW

型號:RS-8330GDW

產品用途:本機適用於手機、平板電腦、電子詞典、導航儀、計算機鍵盤、汽車DVD/CD、各種遙控器等產品按鍵作高溫老化條件下的耐打擊壽命測試。

高低溫按鍵壽命試驗箱RS-8330GDW
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高低溫按鍵壽命試驗箱
產品用途:
本機適用於手機、平板電腦、電子詞典、導航儀、計算機鍵盤、汽車DVD/CD、各種遙控器等產品按鍵作高溫老化條件下的耐打擊壽命測試。

技術參數:
 溫度範圍
 -40~+100℃
 溫度波動度
 ±0.5℃
 溫度偏差
 ≤1℃
 溫度均勻度
 ≤2.0℃(-40~+100℃範圍)
 升溫時間
 從25℃升至100℃ 40分鍾,全程平均非線性,空載
 降溫時間
 從20℃降至-40℃ 60分鍾,全程平均非線性,空載
 可測試區域
 W450*D450*H500mm
 升降溫過衝
 ≤±2℃
 箱體最大負載
 箱體承重:50Kg
 高低溫箱滿足
 試驗標準
 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法
 GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法.
 氣缸打擊行程
 30mm
 氣缸耐溫範圍
 高溫氣缸:室溫~75℃,低溫氣缸:室溫~-40℃
 打擊測試速度
 10~120rpm(取決於氣缸伸出時間和縮回時間設定)
 氣缸打擊力
 150~1500g
 氣缸數量
 8pcs(可以增配,費用另計)
 測試計數設定
 0~999999可設定
 高低溫箱尺寸/按
 鍵控製箱尺寸
 W1000*D1100*H1500mm/ W650*D400*H1700mm
 高低溫箱重量/按
 鍵控製箱重量
 (約)250kg/約65kg
 電源
 1∮,AC220V, 4K

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